Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382.049.77.002:658.562(048.8)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Книга
Ваканова, Т.Ф.
Электрохимические и электрооптический методы анализа и контроля полупроводниковых приборов и микр...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1983 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Ваканова, Т.Ф.
Электрохимические и электрооптический методы анализа и контроля полупроводниковых приборов и микр...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1983 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ