Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник таблиц УДК

К списку таблиц УДК

621.382.049.77.002:658.562

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Диагностика и контроль качества изделий цифровой микроэлектроники
Доступно
 2 из 2
Книга
Данилин, Н.С.
Диагностика и контроль качества изделий цифровой микроэлектроники
Издательство стандартов, 1991 г.
ISBN 5-7050-0089-8
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Контроль в технологии микроэлектроники
Доступно
 2 из 2
Книга
Колешко, Владимир Михайлович
Контроль в технологии микроэлектроники: [монография]
Наука и техника, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности: сборник научных трудов
МИЭТ, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Анализ брака и отказов интегральных схем
Доступно
 1 из 1
Книга

Анализ брака и отказов интегральных схем: (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1958-1978 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей
Доступно
 1 из 1
Книга
Богатырев, А.Е.
Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей: (по данным отечественной и зарубежной печати 1972-79 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121