Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник таблиц УДК

К списку таблиц УДК

621.382

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Сортировать по: заглавиюдате издания
<< назад | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18
Сравнение структуры теплового сопротивления светодиодной лампы с нитевидными и SMD излучателями
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение структуры теплового сопротивления светодиодной лампы с нитевидными и SMD излучателями
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Силовая электроника: профессиональные решения
Доступно
 1 из 2
Книга
Семенов, Б.Ю.
Силовая электроника: профессиональные решения: [настольная книга инженера]
Серия: Компоненты и технологии
СОЛОН-Пресс, 2018 г.
ISBN 9785913592248
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Основы силовой электроники
Доступно
 1 из 1
Книга

Основы силовой электроники
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2019 г.
ISBN 9785948365657
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Метод контроля времени жизни неравновесных носителей заряда из измерений фототока полупроводников...
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Метод контроля времени жизни неравновесных носителей заряда из измерений фототока полупроводников...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Структуры твердых растворов GaxIn1-xAsyP1-y для изготовления усилительных и генераторных приборов...
Статья
Александрова, Г.А.
Структуры твердых растворов GaxIn1-xAsyP1-y для изготовления усилительных и генераторных приборов...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Метод модуляционного дифференцирования вольт-амперных характеристик в диагностике качества полупр...
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Метод модуляционного дифференцирования вольт-амперных характеристик в диагностике качества полупр...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Зарядочувствительные методы измерения поверхностной фото-ЭДС
Книга (аналит. описание)
Микитевич, Владимир Александрович
Зарядочувствительные методы измерения поверхностной фото-ЭДС
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Разработка методов неразрушающего определения и катирования  дефектов прецизионных поверхностей м...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработка методов неразрушающего определения и катирования дефектов прецизионных поверхностей м...: отчет о НИР (заключительный), ГБ 19-75
[б. и.], 2020 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


На полку На полку

Разработка методов бесконтактного неразрушающего картирования наноразмерных дефектов макроскопиче...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработка методов бесконтактного неразрушающего картирования наноразмерных дефектов макроскопиче...: отчет о НИР (заключительный), ГБ 19-79
[б. и.], 2020 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


На полку На полку

Коррекция электротепловой модели переходных процессов растекания тепла в мощных полупроводниковых...
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Коррекция электротепловой модели переходных процессов растекания тепла в мощных полупроводниковых...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Полупроводниковая силовая электроника
Экз. чит. зала
Книга
Белоус, А.И.
Полупроводниковая силовая электроника
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2013 г.
ISBN 9785948363677
ОХОФ


На полку На полку

Фотоемкостной метод контроля параметров примесей и дефектов в полупроводниковых структурах
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Фотоемкостной метод контроля параметров примесей и дефектов в полупроводниковых структурах
Photocapacitive method for monitoring the parameters of impurities and defects in semiconductor structures
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Статья

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Адаптивное управление приводными системами оборудования для разделения полупроводниковых пластин ...
Электронный ресурс (аналит. описание)

Адаптивное управление приводными системами оборудования для разделения полупроводниковых пластин ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Спектры поглощения фоторезистов для обратной литографии
Книга (аналит. описание)

Спектры поглощения фоторезистов для обратной литографии
Absorption spectra of photoresists for reverse lithography
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121