Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник таблиц УДК

К списку таблиц УДК

621.382

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Сортировать по: заглавиюдате издания
<< назад | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | вперед >>
Производство полупроводниковых приборов
Доступно
 2 из 3
Книга
Брук, В.А.
Производство полупроводниковых приборов
Мир, 1969 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
Книга (аналит. описание)
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распре...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распре...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Основные параметры микроэлектронных устройств детекторной электроники
Статья
Волков, Юрий Анатольевич
Основные параметры микроэлектронных устройств детекторной электроники
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой элек...
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой элек...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Исследование электрофизических свойств сенсорных МДП-структур на основе тонких пленок AIN-SiC-окс...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Исследование электрофизических свойств сенсорных МДП-структур на основе тонких пленок AIN-SiC-окс...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 14-76
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР


На полку На полку

Спектроскопия нелинейностей вольтамперных характеристик в диагностике качества полупроводниковых ...
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Спектроскопия нелинейностей вольтамперных характеристик в диагностике качества полупроводниковых ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Полупроводниковая электроника
Доступно
 1 из 1
Книга

Полупроводниковая электроника
Серия: Схемотехника
ДМК Пресс, Додэка-XXI, 2015 г.
ISBN 978-5-9706031-2-3
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Электрофлуктуационная диагностика материалов и приборов полупроводниковой электроники
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Электрофлуктуационная диагностика материалов и приборов полупроводниковой электроники
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Установка для гибки и обрезки радиоэлементов типа 7190-5406
Экз. чит. зала
Книга

Установка для гибки и обрезки радиоэлементов типа 7190-5406: [листок-каталог]
Серия: Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований приборостроения, средств автоматизации и систем управления
ЦНИИТЭИприборостроения, 1981 г.
ISBN отсутствует
ОТНПА и ТП


На полку На полку

Регистратор-индикатор-формирователь (РИФ) типа АМЦ 1416
Экз. чит. зала
Книга

Регистратор-индикатор-формирователь (РИФ) типа АМЦ 1416: [листок-каталог]
Серия: Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований приборостроения, средств автоматизации и систем управления
ЦНИИТЭИприборостроения, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОТНПА и ТП


На полку На полку

Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структур
Статья
Сенько, С.Ф.
Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структур
Estimation of topographic defects dimensions of semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементным...
Статья

Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементным...
Measuring transducers for optical diagnostic system with multifunctional unitary photovoltaic converters
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерение локальных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах
Статья
Сенько, С.Ф.
Измерение локальных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах
Control of local stress in semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрич...
Книга (аналит. описание)

Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрич...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Исследование и оптимизация динамических характеристик кремниевых импульсных диодов
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Исследование и оптимизация динамических характеристик кремниевых импульсных диодов
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
Книга (аналит. описание)

Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121