Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
537.533.35
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Синдо, Дайзуке
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
ISBN 5-948360-64-4
ОХОФ
Синдо, Дайзуке
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Серия: Мир материалов и технологий
Техносфера, 2006 г.ISBN 5-948360-64-4
ОХОФ
Статья
Saad, A.M.
SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Saad, A.M.
SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 09-06
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 09-06
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Книга
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества: [сборник статей]
Наука, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества: [сборник статей]
Наука, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ
Книга
Спенс, Джон
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ
Спенс, Джон
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ
Книга
Томас, Гарет
Просвечивающая электронная микроскопия материалов
Наука, 1983 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ
Томас, Гарет
Просвечивающая электронная микроскопия материалов
Наука, 1983 г.
ISBN отсутствует
ОНЛ
Книга
T. 3: Praktyczna mikroskopia skaningowa: wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej
2019 г.
ISBN 9788365991850
ЧЗ ЗИ
T. 3: Praktyczna mikroskopia skaningowa: wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej
2019 г.
ISBN 9788365991850
ЧЗ ЗИ