Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ
Печать списка
--> ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ
Рубрика
- Название:
- ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ
Печать списка
Связанные описания:
Книга
Hristow, Wl.K.
Die Gauss-Kruger'schen Koordinaten auf dem Ellipsoid
Druck und Verlag von B.G.Teubner, 1943 г.
ISBN отсутствует
Hristow, Wl.K.
Die Gauss-Kruger'schen Koordinaten auf dem Ellipsoid
Druck und Verlag von B.G.Teubner, 1943 г.
ISBN отсутствует
Статья
Spectral Ellipsometry as a Method of Investigation of Influence of Rapid Thermal Processing of Si...
Спектральная эллипсометрия как метод изучения влияния быстрой термообработки кремниевых пластин на их оптические характеристики
б.г.
ISBN отсутствует
Spectral Ellipsometry as a Method of Investigation of Influence of Rapid Thermal Processing of Si...
Спектральная эллипсометрия как метод изучения влияния быстрой термообработки кремниевых пластин на их оптические характеристики
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Громов, В.К.
Введение в эллипсометрию: учебное пособие
Издательство Ленинградского университета, 1986 г.
ISBN отсутствует
Громов, В.К.
Введение в эллипсометрию: учебное пособие
Издательство Ленинградского университета, 1986 г.
ISBN отсутствует
Нормативный документ
Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для сред...
Госстандарт, БелГИСС, 2015 г.
ISBN отсутствует
Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для сред...
Госстандарт, БелГИСС, 2015 г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Методические указания к лабораторной работе "Определение толщины диэлектрической пленки методом р...
БПИ, 1989 г.
ISBN отсутствует
Методические указания к лабораторной работе "Определение толщины диэлектрической пленки методом р...
БПИ, 1989 г.
ISBN отсутствует
Отчет
Оптические исследования эпитаксиальных слоев и квантоворазмерных структур на основе GaN и GaAs: отчет о НИР (заключительный) : ГБ-01-131
[б. и.], 2005 г.
ISBN отсутствует
Оптические исследования эпитаксиальных слоев и квантоворазмерных структур на основе GaN и GaAs: отчет о НИР (заключительный) : ГБ-01-131
[б. и.], 2005 г.
ISBN отсутствует
Книга
Элипсометрия - метод исследования поверхности: [сборник статей]
Наука, Сибирское отделение, 1983 г.
ISBN отсутствует
Элипсометрия - метод исследования поверхности: [сборник статей]
Наука, Сибирское отделение, 1983 г.
ISBN отсутствует