Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Надежность и испытание микро- и наносистем
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Надежность и испытание микро- и наносистем | Микро- и нанотехника | Компонент учреждения высшего образования : Модуль "Методы контроля и надежность микро- и наносистем" | 1 | 0 | 3, 4 | 6, 7 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование : [учебное пособие для вузов по специальностям "Конструирование и производство радиоаппаратуры", "Конструирование и производство электронно-вычислительной аппаратуры"] / О.П. Глудкин. — Москва : Радио и связь, 1987. — 271 с. : ил. — Авт. указаны на обор. тит. л. : 0.95. | 1987 | 2 | 1 | 1 | 1.00 | 1 | 0 | --- | 1.00 | |||
| 2 | Глудкин, О.П. Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС : [учебник для вузов по специальности "Конструирование и технология РЭС", "Конструирование и технология ЭВС"] / О.П. Глудкин. — Москва : Высшая школа, 1991. — 336 с. : ил. — ISBN 5-06-001891-1 : 0.95. | 1991 | 6 | 2 | 2 | 1.00 | 1 | 0 | --- | 1.00 | |||
| 3 | Решетов, Д.Н. Надежность машин : [учебное пособие для машиностроительных специальностей вузов] / Д.Н. Решетов. — Москва : Высшая школа, 1988. — 238 с. : ил. — ISBN 5-06-001200-X : 2.00. | 1988 | 56 | 3 | 1 | 1.00 | 3 | 19 | --- | 1.00 | |||
| 4 | Надежность технических систем / ; Ю. К. Беляев и др. ; под редакцией И. А. Ушакова. — Москва : Радио и связь, 1985. — 606 с. : ил. — (Справочник) : 2.70. | 1985 | 3 | 1 | 1 | 1.00 | 1 | 0 | --- | 1.00 | |||
| 5 | Шишмарев, В.Ю. Надежность технических систем : учебник для бакалавриата и магистратуры : для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим направлениям / В.Ю. Шишмарев. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Юрайт, : Юрайт, 2018. — 305, [1] с. : ил., табл., граф. — (Бакалавр. ) (Академический курс) . — ISBN 978-5-534-05166-7 : 53.92. | Российская Федерация | 2018 | 2 | 2 | 1 | 1.00 | 4 | 69 | --- | 1.00 | ||
| 6 | Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. | 1988 | 8 | 2 | 2 | 1.00 | 2 | 0 | --- | 1.00 | |||
| 7 | Т.2 : Математические методы в теории надежности и эффективности / ; В. В. Белов и др. ; под редакцией Б. В. Гнеденко. — 1987. — 280 с. : ил. : 1.60. | 1987 | 12 | 1 | 1 | 1.00 | 1 | 0 | --- | 1.00 | |||
| Итого по дисциплине : Надежность и испытание микро- и наносистем | 89 | 1.00 | --- | 1.00 | |||||||||