| Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения | Количество обучающихся, изучающих дисциплину | | Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами |
| Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) | Количество экз./чел. |
|
| Приборы и методы измерений в условиях инновационного развития науки, техники и технологий | 0 |
| 1. Степанова, Е.А. Метрология и измерительная техника: основы обработки результатов измерений : учебное пособие для вузов : для студентов, обучающихся по программе бакалавриата по направлениям подготовки "Стандартизация и метрология", "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика" / Е. А. Степанова, Н. А. Скулкина, А. С. Волегов ; под общей редакцией Е. А. Степановой ; Уральский Федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина. — Москва : Юрайт, 2022. — 93, [1] с. : ил., табл. — (Высшее образование) . — Книга доступна на образовательной платформе "Юрайт" urait.ru, а также в мобильном приложении "Юрайт. Библиотека". — ISBN 9785534006865 : 15.36. | 0.14 |
| 2. Волегов, А.С. Метрология и измерительная техника: электронные средства измерений электрических величин : учебное пособие для вузов : для студентов, обучающихся по программе бакалавриата по направлениям подготовки "Стандартизация и метрология", "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика" / А. С. Волегов, Д. С. Незнахин, Е. А. Степанова ; Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина. — Москва : Юрайт ; Екатеринбург : Издательство Уральского университета, 2018. — 99, [3] с. : ил., схемы. — (Университеты России) . — ISBN 9785534084986 : 10.90. | 0.01 |
| 3. Медведев, А.М. Микро- и нанотехнологии. Материаловедение в электронном приборостроении : учебник для студентов бакалавриата и магистратуры, обучающихся по направлениям "Электроника, радиотехника и системы связи", "Приборостроение", "Технология материалов" / А. М. Медведев. — Москва : КноРус, 2024. — 268 с. : ил., табл., схемы. — (Бакалавриат и магистратура) . — Содерж.: Конструкционные материалы ; Конструкционные материалы на основе сплавов железа ; Черные металлы и сплавы ; Цветные металлы и сплавы ; Маркировка сплавов цветных металлов ; Медные сплавы ; Титановые сплавы ; Алюминиевые сплавы ; Твердосплавные материалы ; Инструментальные материалы ; Инструментальные стали ; Минералокерамика и керметы ; Абразивные материалы ; Алмазные материалы ; Диэлектрики ; Поляризация диэлектриков ; Электропроводность изоляционных материалов ; Электрическая прочность диэлектриков ; Пробой газов ; Электрохимический пробой ; Тепловой пробой ; Потери в диэлектриках ; Физико-механические и химические свойства диэлектриков ; Гигроскопичность и влагопроницаемость диэлектриков ; Влагостойкость ; Температурные фазовые переходы в полимерах ; Морозостойкость ; Вязкость ; Теплопроводность ; Тепловое расширение ; Распространенные органические диэлектрики ; Конденсационные смолы ; Пластические массы ; Пластмассы с малыми диэлектрическими потерями (нейтральные) ; Полиимиды ; Пластмассы с повышенными диэлектрическими потерями ; Компаунды ; Покровные лаки и эмали ; Влагозащитные лаки ; Клеи ; Неорганические диэлектрики ; Керамические диэлектрики ; Низкотемпературная керамика ; Электротехнические стекла ; Активные диэлектрики ; Вопросы и задания для самопроверки ; Проводниковые материалы ; Материалы высокой проводимости ; Медь ; Алюминий ; Железо ; Биметаллы ; Сверхпроводники и криопроводники ; Металлы и сплавы различного назначения ; Свинец ; Олово ; Вольфрам ; Молибден ; Платина ; Серебро ; Ртуть ; Никель ; Цинк ; Индий ; Литий ; Сплавы – платинит, инвар, ковар ; Органические металлы ; Сплавы высокого электросопротивления ; Нихромы ; Жаростойкие материалы на основе карбидов и силицидов ; Материалы на основе углерода ; Контактные материалы ; Золото и его сплавы ; Палладий и его сплавы ; Родий ; Гальванические покрытия из драгоценных металлов ; Биметаллические контакты ; Полупроводниковые материалы ; Полуметаллы (металлоиды) ; Простые полупроводники ; Легирование и легирующие элементы ; Германий ; Технология получения элементарных полупроводников ; Получение монокристалла ; Получение р-n-переходов ; Сложные полупроводниковые материалы ; Сложные полупроводники типа AIVBIV ; Сложные полупроводники типа AIIIBV ; Бинарные соединения ; Халькогениды ; Магнитные материалы ; Ферромагнетики ; Процессы намагничивания ; Магнитная проницаемость ; Температура Кюри ; Петля гистерезиса ; Магнитострикция ; Магнитно-мягкие материалы для технических частот ; Трансформаторное железо ; Карбонильное железо ; Пермаллои ; Магнитодиэлектрики ; Ферриты ; Магнитнотвердые материалы ; Сплавы для постоянных магнитов ; Неодимовые магнитные материалы ; Технологические материалы ; Фольгированные диэлектрики ; Свойства фольгированных материалов ; Плотность ; Водопоглощение ; Температурный коэффициент линейного расширения ; Огнестойкость ; Коробление ; Нагревостойкость ; Влагостойкость ; Термомеханическая устойчивость ; Прочность сцепления фольги с диэлектриком ; Электрические испытания ; Сопротивление изоляции диэлектрика ; Электрическая прочность ; Диэлектрическая проницаемость ; Диэлектрические потери ; Анизотропность композиционных диэлектриков ; Электрическое сопротивление фольги ; Размерная стабильность ; Фоторезисты ; Флюсы и припои ; Материалы для механической обработки ; Твердосплавные материалы ; Абразивные материалы ; Алмазы ; Инструментальные материалы ; Быстрорежущие стали ; Минераллокерамика и керметы ; Инструмент для механической обработки печатных плат ; Наноматериалы. — ISBN 9785406119938 : 55.00. | 1.00 |
| 4. Пасынков, В.В. Полупроводниковые приборы : учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров "Электроника и микроэлектроника" и по направлению подготовки дипломированных специалистов "Электроника и микроэлектроника" / В. В. Пасынков, Л. К. Чиркин. — Изд. 10-е, стер. — Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2022. — 478, [1] с. : ил., табл., схемы, граф. — (Высшее образование) . — Содерж.: Энергетические зоны полупроводников ; Генерация и рекомбинация носителей заряда ; Концентрация носителей заряда в полупроводнике при термодинамическом равновесии ; Собственные полупроводники ; Примесные полупроводники ; Время жизни неравновесных носителей заряда ; Процессы переноса зарядов в полупроводниках ; Температурные зависимости концентрации носителей заряда и положения уровня Ферми ; Температурные зависимости подвижности носителей заряда и удельной проводимости ; Полупроводники в сильных электрических полях ; Оптические свойства полупроводников ; Фотоэлектрические явления в полупроводниках ; Обедненные, инверсные и обогащенные поверхностные слои ; Поверхностная рекомбинация ; Проводимость канала поверхностной электроводности ; Электронно-дырочный переход ; Распределение напряженности электрического поля и потенциала в электронно-дырочном переходе ; Омический переход на контакте полупроводников с одним типом электропроводности ; Выпрямляющие и омические переходы на контакте металла с полупроводником ; Гетеропереходы ; Свойства и. параметры омических переходов ; Полупроводниковые диоды ; Вольт-амперная характеристика диода при инжекции и экстракции носителей заряда ; Графики частотных зависимостей параметров диода ; Физический смысл параметров диода ; Лавинный пробой ; Туннельный пробой ; Тепловой пробой ; Влияние поверхностных состояний на вольт-амперную характеристику диода ; Процессы в диодах при больших прямых токах ; Вольт-амперная характеристика диода в полулогарифмических координатах ; Переходные процессы в диодах ; Выпрямительные плоскостные низкочастотные диоды ; Селеновые выпрямители ; Импульсные диоды ; Диоды Шотки ; Диоды с резким восстановлением обратного сопротивления ; Сверхвысокочастотные диоды ; Стабилитроны ; Стабисторы ; Шумовые диоды ; Лавинно пролетные диоды ; Туннельные диоды ; Обращенные диоды ; Варикапы ; Надежность диодов ; Биполярные транзисторы ; Малосигнальные параметры ; Эквивалентные схемы ; Барьерные емкости переходов и сопротивление базы ; Шумы в транзисторах ; Однопереходные транзисторы ; Надежность транзисторов ; Тиристоры ; Диодные тиристоры ; Диодный тиристор с зашунтированным эмиттерным переходом ; Триодные тиристоры ; Тиристоры, проводящие в обратном направлении ; Симметричные тиристоры ; Полевые транзисторы и приборы с зарядовой связью ; Интегральные микросхемы ; Полупроводниковые приборы на эффекте междолинного перехода электронов ; Принцип действия генераторов Ганна ; Генераторы с ограничением накопления объемного заряда ; Оптоэлектронные полупроводниковые приборы ; Электролюминесцентные порошковые излучатели ; Электролюминесцентные пленочные излучатели ; Лазеры ; Фоторезисторы ; Фотодиоды ; Полупроводниковые фотоэлементы ; Фототранзисторы и фототнристоры ; Приемники проникающей радиации и корпускулярно преобразовательные приборы ; Оптопары и оптоэлектронные микросхемы ; Терморезисторы ; Болометры ; Позисторы ; Варисторы ; Полупроводниковые приборы на аморфных полупроводниках ; Полупроводниковые термоэлектрические устройства ; Термоэлектрические генераторы ; Холодильники и тепловые насосы ; Полупроводниковые гальваномагнитные приборы ; Преобразователи Холла ; Магниторезисторы ; Магнитодиоды и магнитотранзисторы. — ISBN 9785507443901 : 69.00. | 0.05 |
| 5. Кане, Марк Моисеевич. Предварительный анализ экспериментальных данных. Оценка правомерности применения корреляционно-регрессионного анализа в заданных условиях : пособие для студентов специальностей 1-36 80 02 "Инновационные технологии в машиностроении" и 1-53 80 01 "Автоматизация" / Кане Марк Моисеевич ; Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский национальный технический университет, Кафедра "Технология машиностроения". — Минск : БНТУ, 2020. — 48, [1] с. : табл., граф. — Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/81351. — 5203. — ISBN 9789855835388 : 0.60. | 1.00 |
| 6. Джилавдари, Игорь Захарович. Физические основы измерений (сборник задач) : учебно-методическое пособие для студентов специальностей 1-38 02 01 "Информационно-измерительная техника"; 1-38 02 03 "Техническое обеспечение безопасности"; 1-54 01 02 "Методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов" / И. З. Джилавдари, Н. Н. Ризноокая ; Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский национальный технический университет, Кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии". — Минск : БНТУ, 2020. — 56, [1] с. : ил., табл. — Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/77492. — 5179. — ISBN 9789855835296 : 0.61. | 1.00 |
|