| Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения | Количество обучающихся, изучающих дисциплину | | Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами |
| Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) | Количество экз./чел. |
|
| Техника наноконтроля | --- |
| 1. Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : [учебное пособие по направлению "Прикладные математика и физика"] : пер. с / Д. Брандон. — Москва : Техносфера, 2004. — 377 с. : ил. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 5-948360-18-0 : 45000.00. | 0.05 |
| 2. Белоус, А.И. МЭМС: конструкции, технологии, приложения / А. И. Белоус, С. А. Чижик. — Москва : Техносфера, 2024. — 618 с. : ил., цв. ил., схемы, табл. — (Мир электроники ; VII-81) . — Содерж.: Иллюстрированное введение в проблемы МЭМС ; Датчики силы и крутящего момента ; Датчики давления ; МЭМС-актюаторы: классификация, принципы функционирования ; Микромеханические микродвигатели и МЭМС-транспортеры ; МЭМС-акселерометры: классификация, конструкции, принципы работы ; МЭМС-гироскопы: классификация, конструкции, принципы работы ; МЭМС-устройства генерирования и аккумулирования энергии ; Основы технологии изготовления МЭМС ; Технологии и конструкции оптических МЭМС ; Методы и технологии корпусирования МЭМС-устройств ; Основы проектирования МЭМС ; Методологические основы организации процесса испытаний МЭМС ; Основные области применения МЭМС в автомобилях ; Биомедицинские приложения МЭМС ; СВЧ-приложения МЭМС-технологий ; Наноэлектромеханические системы (НЭМС) ; Инерциальные навигационные системы на основе МЭМС-датчиков. — ISBN 9785948366883 : 66.0. | 0.24 |
| 3. Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : [терминологический словарь] / М.В. Ковальчук. — Москва : Техносфера, 2009. — 135 с. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 978-5-948362-29-8 : 74088.00. | 0.02 |
| 4. Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов вузов / В. Л. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур. — Москва : Техносфера, 2005. — 143 с. : ил. — (Мир физики и техники) . — На кор. : II-02. — ISBN 5-948360-34-2 : 16343.00. | 0.01 |
| 5. Ч.1 : . / Сергей Антонович Чижик. — 2009. — 48 с. : ил. — 3615. — ISBN 978-985-525-262-8 : 536.00. | 0.02 |
| 6. Ч.2 : . / Сергей Антонович Чижик. — 2011. — 64 с. : ил. — Режим доступа : http://rep.bntu.by/handle/data/5101. — 3920. — ISBN 978-985-525-537-7 : 829.00. | 1.00 |
|