Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Разработка методик исследования и анализа дифференциальных тепловых параметров межэлементных соед...
Разработка методик исследования и анализа дифференциальных тепловых параметров межэлементных соед...
Электронный ресурс
Автор:
Разработка методик исследования и анализа дифференциальных тепловых параметров межэлементных соед... : отчет о НИР (заключительный)
Издательство: [б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Разработка методик исследования и анализа дифференциальных тепловых параметров межэлементных соед... : отчет о НИР (заключительный)
Издательство: [б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработка методик исследования и анализа дифференциальных тепловых параметров межэлементных соединений в мощных полупроводниковых приборах и их деградации при термоиспытаниях на основе метода тепловой дифференциальной спектроскопии в рамках задания "Разработка и внедрение новых методов исследований элементного состава, микроструктуры, электрофизических и геометрических параметров изделий микроэлектроники и их отдельных элементов на основе высоколокальных процессов пробоподготовки, нанозондирования, электрофизических комплексов, электронной и оптической микроскопии" [Электронный ресурс]: отчет о НИР (заключительный): ГБ 16-40/1 / Белорусский национальный технический университет; рук. В. С. Нисс; исполн.: Г. М. Сенченко, С. В. Григорьев, С. И. Головач. – Электрон. дан. – Минск: [б. и.], 2018. – 1 электрон. опт. диск (CD-RW). - № ГР 20161524. – Систем. требования: IBM PC - совместимый ПК ; Windows XP и выше ; CD-ROM дисковод ; мышь. – Загл. с титул. экрана.
621.382.3:539.194
535.33
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = ТРАНЗИСТОРЫ
общий = РЕЛАКСАЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = ТЕПЛОВОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ
общий = ПАРАМЕТРЫ (физ., техн.)
общий = СВЕТОДИОДЫ
общий = ДЕГРАДАЦИЯ
Разработка методик исследования и анализа дифференциальных тепловых параметров межэлементных соединений в мощных полупроводниковых приборах и их деградации при термоиспытаниях на основе метода тепловой дифференциальной спектроскопии в рамках задания "Разработка и внедрение новых методов исследований элементного состава, микроструктуры, электрофизических и геометрических параметров изделий микроэлектроники и их отдельных элементов на основе высоколокальных процессов пробоподготовки, нанозондирования, электрофизических комплексов, электронной и оптической микроскопии" [Электронный ресурс]: отчет о НИР (заключительный): ГБ 16-40/1 / Белорусский национальный технический университет; рук. В. С. Нисс; исполн.: Г. М. Сенченко, С. В. Григорьев, С. И. Головач. – Электрон. дан. – Минск: [б. и.], 2018. – 1 электрон. опт. диск (CD-RW). - № ГР 20161524. – Систем. требования: IBM PC - совместимый ПК ; Windows XP и выше ; CD-ROM дисковод ; мышь. – Загл. с титул. экрана.
621.382.3:539.194
535.33
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = ТРАНЗИСТОРЫ
общий = РЕЛАКСАЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = ТЕПЛОВОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ
общий = ПАРАМЕТРЫ (физ., техн.)
общий = СВЕТОДИОДЫ
общий = ДЕГРАДАЦИЯ
Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|
ЧЗ НР | 1 | - | 1 | Недоступно |