Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Барбашов, В.М. - Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
Барбашов, В.М. - Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
Статья
Автор: Барбашов, В.М.
Датчики и системы: Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Барбашов, В.М.
Датчики и системы: Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Барбашов, В.М.
Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне / В.М. Барбашов, Б.И. Подлепецкий, Н.С. Трушкин // Датчики и системы: научно-технический и производственный журнал / гл. ред. Ф.Ф. Пащенко; учредитель ООО"СенСиДат-Плюс", Российская академия наук, Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова, НП "Национальная технологическая палата". – 2016. – N4. – С.54-57.
общий = БД Техника
общий = ЦИФРОВЫЕ УСТРОЙСТВА
общий = ЛОГИЧЕСКИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
общий = МОДЕЛИРОВАНИЕ
Барбашов, В.М.
Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне / В.М. Барбашов, Б.И. Подлепецкий, Н.С. Трушкин // Датчики и системы: научно-технический и производственный журнал / гл. ред. Ф.Ф. Пащенко; учредитель ООО"СенСиДат-Плюс", Российская академия наук, Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова, НП "Национальная технологическая палата". – 2016. – N4. – С.54-57.
общий = БД Техника
общий = ЦИФРОВЫЕ УСТРОЙСТВА
общий = ЛОГИЧЕСКИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
общий = МОДЕЛИРОВАНИЕ
Привязано к:
Выпуск
Пащенко, Ф.Ф.
Датчики и системы: научно-технический и производственный журнал N4
СенСиДат-Контрол, 2016 г.
ISBN отсутствует
ОПИ
Пащенко, Ф.Ф.
Датчики и системы: научно-технический и производственный журнал N4
СенСиДат-Контрол, 2016 г.
ISBN отсутствует
ОПИ