Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Овчаренко, В.И. - Методы анализа качества микросхем при их производстве
Овчаренко, В.И. - Методы анализа качества микросхем при их производстве
Книга
Автор: Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Автор: Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 О-35
Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.) / В.И. Овчаренко, В.Е. Севостьянов. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. – 39 с.: табл. – (Обзоры по электронной технике; вып.1(870). Серия 3, Микроэлектроника) . - На тит. л. авт. не указаны: 0.38.
621.382.049.77.002:658.562(048.8)
общий = КАЧЕСТВО
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
621.3 О-35
Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.) / В.И. Овчаренко, В.Е. Севостьянов. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. – 39 с.: табл. – (Обзоры по электронной технике; вып.1(870). Серия 3, Микроэлектроника) . - На тит. л. авт. не указаны: 0.38.
621.382.049.77.002:658.562(048.8)
общий = КАЧЕСТВО
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |