Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Глудкин, О.П. - Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев
Глудкин, О.П. - Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев
Книга
Автор: Глудкин, О.П.
Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1982гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
Автор: Глудкин, О.П.
Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1982гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 Г55
Глудкин, О.П.
Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1982гг.) / О.П. Глудкин. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1983. – 56 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.2(935). Серия 2, Полупроводниковые приборы) : 0.49.
621.382.049.772.1(048.8)
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
621.3 Г55
Глудкин, О.П.
Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1982гг.) / О.П. Глудкин. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1983. – 56 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.2(935). Серия 2, Полупроводниковые приборы) : 0.49.
621.382.049.772.1(048.8)
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |