Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Frantskevich, N.V.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Buried insulating layer formation in Cz Si wafers after helium implantation, nitrogen plasma trea...
Статья
Frantskevich, N.V.
Buried insulating layer formation in Cz Si wafers after helium implantation, nitrogen plasma trea...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Copper in-depth distribution in hydrogen implanted Cz Si wafers subjected to two-step annealing
Статья
Frantskevich, A.V.
Copper in-depth distribution in hydrogen implanted Cz Si wafers subjected to two-step annealing
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Formation of Cone-Shaped Inclusions and Line Defects on the Cz-Si Wafer Surface by the Helium Imp...
Статья
Frantskevich, N.V.
Formation of Cone-Shaped Inclusions and Line Defects on the Cz-Si Wafer Surface by the Helium Imp...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Formation of nanotubes in Cz Si wafers using He+ implantation and subsequent O+- or N+-plasma tre...
Статья
Frantskevich, A.V.
Formation of nanotubes in Cz Si wafers using He+ implantation and subsequent O+- or N+-plasma tre...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Micro-Raman Investigation of Hydrogen Localized in Cone-Shaped Defects Formed on the Silicon Wafe...
Статья
Frantskevich, N.V.
Micro-Raman Investigation of Hydrogen Localized in Cone-Shaped Defects Formed on the Silicon Wafe...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
Статья
Saad, A.M.
SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

SEM investigation of surface defects arising at the formation of a buried nitrogen-containing lay...
Статья
Frantskevich, A.V.
SEM investigation of surface defects arising at the formation of a buried nitrogen-containing lay...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Study of nanopipes formed in silicon wafers using helium implantation by SEM, RBS and SIMS methods
Статья
Frantskevich, A.V.
Study of nanopipes formed in silicon wafers using helium implantation by SEM, RBS and SIMS methods
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2024  v.20.121