Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Чигирь, Г.Г.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Многотомник
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
На полку 
Статья
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ
Заказать 
Электронный ресурс
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Книга
Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9
ОХОФ
Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9
ОХОФ