Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
ГРНТИ 29.35.43
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов: Методические указания к лабораторной работе
БНТУ, 2004 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ООУЛ, ОРиЦИ, ОНЛ
Электронно-микроскопическое исследование структуры кристаллов: Методические указания к лабораторной работе
БНТУ, 2004 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ООУЛ, ОРиЦИ, ОНЛ
Книга
Кочаков, В.Д.
Основы сканирующей туннельной наноскопии: учебное пособие
Издательство Чувашского университета, 2009 г.
ISBN 978-5-7677-1385-1
ОХОФ
Кочаков, В.Д.
Основы сканирующей туннельной наноскопии: учебное пособие
Издательство Чувашского университета, 2009 г.
ISBN 978-5-7677-1385-1
ОХОФ
Книга
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии: X Международная конференция, Минск, 13-16 ноября 2012 г. : сборник докладов
Беларуская навука, 2012 г.
ISBN 978-985-08-1483-8
ОХОФ
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии: X Международная конференция, Минск, 13-16 ноября 2012 г. : сборник докладов
Беларуская навука, 2012 г.
ISBN 978-985-08-1483-8
ОХОФ
Книга
T. 3: Praktyczna mikroskopia skaningowa: wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej
2019 г.
ISBN 9788365991850
ЧЗ ЗИ
T. 3: Praktyczna mikroskopia skaningowa: wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej
2019 г.
ISBN 9788365991850
ЧЗ ЗИ