Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382.049.77.019.3(048.8)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Лашевский, Р.А.
Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1974 - 1 полугодие 1980 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Лашевский, Р.А.
Использование тестовых структур для анализа причин брака и оценки надежности БИС: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1974 - 1 полугодие 1980 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ