Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга (аналит. описание)
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распре...
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распре...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Волков, Юрий Анатольевич
Основные параметры микроэлектронных устройств детекторной электроники
б.г.
ISBN отсутствует
Волков, Юрий Анатольевич
Основные параметры микроэлектронных устройств детекторной электроники
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой элек...
б.г.
ISBN отсутствует
Сопряков, Виталий Иванович
Методы контроля качества и диагностики отказов приборов и структур силовой полупроводниковой элек...
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Исследование электрофизических свойств сенсорных МДП-структур на основе тонких пленок AIN-SiC-окс...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 14-76
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Исследование электрофизических свойств сенсорных МДП-структур на основе тонких пленок AIN-SiC-окс...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 14-76
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Спектроскопия нелинейностей вольтамперных характеристик в диагностике качества полупроводниковых ...
б.г.
ISBN отсутствует
Сопряков, Виталий Иванович
Спектроскопия нелинейностей вольтамперных характеристик в диагностике качества полупроводниковых ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Полупроводниковая электроника
ISBN 978-5-9706031-2-3
ОХОФ
Полупроводниковая электроника
Серия: Схемотехника
ДМК Пресс, Додэка-XXI, 2015 г.ISBN 978-5-9706031-2-3
ОХОФ
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Электрофлуктуационная диагностика материалов и приборов полупроводниковой электроники
б.г.
ISBN отсутствует
Сопряков, Виталий Иванович
Электрофлуктуационная диагностика материалов и приборов полупроводниковой электроники
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Установка для гибки и обрезки радиоэлементов типа 7190-5406: [листок-каталог]
ЦНИИТЭИприборостроения, 1981 г.
ISBN отсутствует
ОТНПА и ТП
Установка для гибки и обрезки радиоэлементов типа 7190-5406: [листок-каталог]
ЦНИИТЭИприборостроения, 1981 г.
ISBN отсутствует
ОТНПА и ТП
Книга
Регистратор-индикатор-формирователь (РИФ) типа АМЦ 1416: [листок-каталог]
ЦНИИТЭИприборостроения, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОТНПА и ТП
Регистратор-индикатор-формирователь (РИФ) типа АМЦ 1416: [листок-каталог]
ЦНИИТЭИприборостроения, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОТНПА и ТП
Статья
Сенько, С.Ф.
Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структур
Estimation of topographic defects dimensions of semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Сенько, С.Ф.
Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структур
Estimation of topographic defects dimensions of semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементным...
Measuring transducers for optical diagnostic system with multifunctional unitary photovoltaic converters
б.г.
ISBN отсутствует
Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с многофункциональными одноэлементным...
Measuring transducers for optical diagnostic system with multifunctional unitary photovoltaic converters
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Сенько, С.Ф.
Измерение локальных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах
Control of local stress in semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Сенько, С.Ф.
Измерение локальных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах
Control of local stress in semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрич...
б.г.
ISBN отсутствует
Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрич...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Исследование и оптимизация динамических характеристик кремниевых импульсных диодов
б.г.
ISBN отсутствует
Сопряков, Виталий Иванович
Исследование и оптимизация динамических характеристик кремниевых импульсных диодов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует