Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.315.592.08(063)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Методы и аппаратура для измерения параметров полупроводников и диэлектриков: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1988 г.)
ISBN отсутствует
ОХОФ
Методы и аппаратура для измерения параметров полупроводников и диэлектриков: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1988 г.)
Серия: Тезисы докладов конференций
ЦНИИ "Электроника", 1988 г.ISBN отсутствует
ОХОФ