Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
548.4:621.373.826
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
ISBN отсутствует
ОНЛ
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
Серия: Труды Института общей физики
Наука, 1986 г.ISBN отсутствует
ОНЛ