Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
537.311.322.08(075.8)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Рембеза, С.И.
Методы измерения основных параметров полупроводников: [учебное пособие для вузов по специальности "Физика и технология материалов и компонентов электронной техники"]
ISBN 5-7455-0132-4
ОХОФ
Рембеза, С.И.
Методы измерения основных параметров полупроводников: [учебное пособие для вузов по специальности "Физика и технология материалов и компонентов электронной техники"]
Серия: Микроэлектроника
Издательство Воронежского университета, 1989 г.ISBN 5-7455-0132-4
ОХОФ