| 1. Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : [учебное пособие по направлению "Прикладные математика и физика"] : пер. с / Д. Брандон. — Москва : Техносфера, 2004. — 377 с. : ил. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 5-948360-18-0 : 45000.00. | 0.05 |
| 2. Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : [терминологический словарь] / М.В. Ковальчук. — Москва : Техносфера, 2009. — 135 с. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 978-5-948362-29-8 : 74088.00. | 0.02 |
| 3. Миронов, В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов вузов / В. Л. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур. — Москва : Техносфера, 2005. — 143 с. : ил. — (Мир физики и техники) . — На кор. : II-02. — ISBN 5-948360-34-2 : 16343.00. | 0.01 |
| 4. Ч.1 : . / Сергей Антонович Чижик. — 2009. — 48 с. : ил. — 3615. — ISBN 978-985-525-262-8 : 536.00. | 0.02 |
| 5. Ч.2 : . / Сергей Антонович Чижик. — 2011. — 64 с. : ил. — Режим доступа : http://rep.bntu.by/handle/data/5101. — 3920. — ISBN 978-985-525-537-7 : 829.00. | 1.00 |