Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Knigob Matieres

Печать /Основная форма/Экспорт (Excel)

Дисциплина: Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники

Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения Количество обучающихся, изучающих дисциплину
Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами
Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) Количество экз./чел.
Компонент учреждения высшего образования
Модуль "Прикладные технологии"
Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники 1
1. Глудкин, О.П. Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС : [учебник для вузов по специальности "Конструирование и технология РЭС", "Конструирование и технология ЭВС"] / О.П. Глудкин. — Москва : Высшая школа, 1991. — 336 с. : ил. — ISBN 5-06-001891-1 : 0.95. 1.00
2. Ефимов, И.Е. Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов] / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь, Ю. И. Горбунов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Высшая школа, 1986. — 464 с. : ил. — (Учебное пособие для вузов) : 1.60. 0.98
3. Фатуев, В.А. Надежность автоматизированных информационных систем : учебное пособие / В.А. Фатуев. — Тула : ТулГУ, 1998. — 103 с. : ил. — ISBN 5-7679-0170-8 : 448000.00. 1.00
4. Синопальников, В.А. Надежность и диагностика технологических систем : [учебник для вузов по специальности "Металлообрабатывающие станки и комплексы" направления "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств"] / В.А. Синопальников. — Москва : Высшая школа, 2005. — 343 с. : ил. — ISBN 5-06-004422-X : 15399.00. 1.00
5. Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. 1.00
6. Глудкин, О.П. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов] / О.П. Глудкин. — Москва : Энергия, 1980. — 360 с. : ил. — (Для студентов вузов) . — Режим доступа : http:Libsrv24.library.bntu.byTextScanGludkin_ OPDoc1.pdf : 1.00. 1.00
© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.121