Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники | Микро- и нанотехника | Компонент учреждения высшего образования : Модуль "Прикладные технологии" | 1 | 0 | 4 | 7 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Глудкин, О.П. Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС : [учебник для вузов по специальности "Конструирование и технология РЭС", "Конструирование и технология ЭВС"] / О.П. Глудкин. — Москва : Высшая школа, 1991. — 336 с. : ил. — ISBN 5-06-001891-1 : 0.95. | 1991 | 6 | 2 | 2 | 1.00 | 0 | 0 | 1.00 | 1.00 | |||
| 2 | Ефимов, И.Е. Микроэлектроника : физические и технологические основы, надежность : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов] / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь, Ю. И. Горбунов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Высшая школа, 1986. — 464 с. : ил. — (Учебное пособие для вузов) : 1.60. | 1986 | 21 | 1 | 1 | 1.00 | 1 | 22 | 0.95 | 0.98 | |||
| 3 | Фатуев, В.А. Надежность автоматизированных информационных систем : учебное пособие / В.А. Фатуев. — Тула : ТулГУ, 1998. — 103 с. : ил. — ISBN 5-7679-0170-8 : 448000.00. | 1998 | 1 | 1 | 1 | 1.00 | 0 | 0 | 1.00 | 1.00 | |||
| 4 | Синопальников, В.А. Надежность и диагностика технологических систем : [учебник для вузов по специальности "Металлообрабатывающие станки и комплексы" направления "Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств"] / В.А. Синопальников. — Москва : Высшая школа, 2005. — 343 с. : ил. — ISBN 5-06-004422-X : 15399.00. | Российская Федерация | 2005 | 2 | 1 | 1 | 1.00 | 0 | 0 | 1.00 | 1.00 | ||
| 5 | Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. | 1988 | 8 | 2 | 2 | 1.00 | 1 | 0 | 1.00 | 1.00 | |||
| 6 | Глудкин, О.П. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов] / О.П. Глудкин. — Москва : Энергия, 1980. — 360 с. : ил. — (Для студентов вузов) . — Режим доступа : http:Libsrv24.library.bntu.byTextScanGludkin_ OPDoc1.pdf : 1.00. | 1980 | 11 | 1 | 1 | 1.00 | 0 | 0 | 1.00 | 1.00 | |||
| Итого по дисциплине : Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники | 49 | 1.00 | --- | 1.00 | |||||||||