Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Анисович, А.Г. - Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронн...
Анисович, А.Г. - Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронн...
Статья
Автор: Анисович, А.Г.
Литье и металлургия: Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронн...
The measurement of the vertical relief on metal-graphic microscopes of production of OJC «Optoelectronic systems»
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Анисович, А.Г.
Литье и металлургия: Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронн...
The measurement of the vertical relief on metal-graphic microscopes of production of OJC «Optoelectronic systems»
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Анисович, А.Г.
Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы» = The measurement of the vertical relief on metal-graphic microscopes of production of OJC «Optoelectronic systems» / А. Г. Анисович, А. С. Буйницкая. – DOI 10.21122/1683-6065-2019-2-117-121 // Литье и металлургия / гл. ред. Е.И. Марукович; учредитель Белорусский национальный технический университет (Минск), ОАО "БМЗ - управляющая компания холдинга "БМК", Ассоциация литейщиков и металлургов, ОАО "Белниилит", ОАО "ГОМЕЛЬСКИЙ ЛИТЕЙНЫЙ ЗАВОД "ЦЕНТРОЛИТ", ОАО "Минский тракторный завод", ОАО "Могилевский металлургический завод", ОАО "Речицкий метизный завод", Национальная академия наук Беларуси (Минск), Институт технологии металлов (Могилев). – 2019. – №2. – С. 117-121. – Режим доступа : http://rep.bntu.by/handle/data/54606. – На рус. яз.
Проиллюстрированы возможности измерения глубины рельефа поверхности на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 рассматривается методика определения высоты рельефа, в основу которой положена связь между углом поворота барабана настройки точной фокусировки и вертикальным перемещением предметного столика. Приводятся примеры измерения глубины кратеров после воздействия лазерного излучения на металлическую поверхность. Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 глубина лунки была определена как 99,36 и 99,8 мкм соответственно, что согласуется с данными профилометра (~100 мкм). Для плоскопараллельной кварцевой пластинки результаты измерений составили 0,435 мкм при определении микроскопически, а также объект-микрометром. Рассматривается возможность определения толщины покрытий нитрида титана методом дифференциально-интерференционного контраста. Метод позволяет определение толщины по разности интерференционных цветов, если участки изображения находятся на различной высоте. Оценить толщину покрытия можно с использованием номограммы двойного лучепреломления.
620.182
общий = БД Техника
общий = РЕЛЬЕФ
общий = МИКРОСКОПЫ
Анисович, А.Г.
Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы» = The measurement of the vertical relief on metal-graphic microscopes of production of OJC «Optoelectronic systems» / А. Г. Анисович, А. С. Буйницкая. – DOI 10.21122/1683-6065-2019-2-117-121 // Литье и металлургия / гл. ред. Е.И. Марукович; учредитель Белорусский национальный технический университет (Минск), ОАО "БМЗ - управляющая компания холдинга "БМК", Ассоциация литейщиков и металлургов, ОАО "Белниилит", ОАО "ГОМЕЛЬСКИЙ ЛИТЕЙНЫЙ ЗАВОД "ЦЕНТРОЛИТ", ОАО "Минский тракторный завод", ОАО "Могилевский металлургический завод", ОАО "Речицкий метизный завод", Национальная академия наук Беларуси (Минск), Институт технологии металлов (Могилев). – 2019. – №2. – С. 117-121. – Режим доступа : http://rep.bntu.by/handle/data/54606. – На рус. яз.
Проиллюстрированы возможности измерения глубины рельефа поверхности на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 рассматривается методика определения высоты рельефа, в основу которой положена связь между углом поворота барабана настройки точной фокусировки и вертикальным перемещением предметного столика. Приводятся примеры измерения глубины кратеров после воздействия лазерного излучения на металлическую поверхность. Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 глубина лунки была определена как 99,36 и 99,8 мкм соответственно, что согласуется с данными профилометра (~100 мкм). Для плоскопараллельной кварцевой пластинки результаты измерений составили 0,435 мкм при определении микроскопически, а также объект-микрометром. Рассматривается возможность определения толщины покрытий нитрида титана методом дифференциально-интерференционного контраста. Метод позволяет определение толщины по разности интерференционных цветов, если участки изображения находятся на различной высоте. Оценить толщину покрытия можно с использованием номограммы двойного лучепреломления.
620.182
общий = БД Техника
общий = РЕЛЬЕФ
общий = МИКРОСКОПЫ
Привязано к:
Выпуск
Литье и металлургия №2
Белорусский национальный технический университет, 2019 г.
ISBN отсутствует
ОПИ
Литье и металлургия №2
Белорусский национальный технический университет, 2019 г.
ISBN отсутствует
ОПИ