Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Калябина, И.А. - Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем
Калябина, И.А. - Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем
Книга
Автор: Калябина, И.А.
Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем : (по материалам зарубежной печати за 1966-1986 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует
Автор: Калябина, И.А.
Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем : (по материалам зарубежной печати за 1966-1986 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 К17
Калябина, И.А.
Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем: (по материалам зарубежной печати за 1966-1986 гг.) / И.А. Калябина. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1986. – 26 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.18(1238). Серия 7, Технология, организация производства и оборудование) : 0.38.
621.382.049.77(048.8)
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = МЕЖСОЕДИНЕНИЯ (электротехн.)
общий = ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ
621.3 К17
Калябина, И.А.
Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем: (по материалам зарубежной печати за 1966-1986 гг.) / И.А. Калябина. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1986. – 26 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.18(1238). Серия 7, Технология, организация производства и оборудование) : 0.38.
621.382.049.77(048.8)
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = МЕЖСОЕДИНЕНИЯ (электротехн.)
общий = ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |