Электронный каталог НБ БНТУ

Книга
621.3 Г55

Глудкин, О.П.
Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1977 гг.) / О.П. Глудкин, А.Л. Русанов. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – 66 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.2(725). Серия 8, Управление качеством, метрология, стандартизация) . - На тит. л. авт. не указаны: 0.60.

621.382.049.77-747(048.8)

общий = МИКРОЭЛЕМЕНТЫ
общий = НЕИСПРАВНОСТИ
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ