Электронный каталог НБ БНТУ

rus

Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога
ФИЛИАЛЫ
КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Брылева, О.А. - Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов

Брылева, О.А. - Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов

Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов

Статья
Автор: Брылева, О.А.
Вестник Белорусско-Российского университета: Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья

Брылева, О.А.
Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов / О.А. Брылева, Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев // Вестник Белорусско-Российского университета: научно-методический журнал / гл. ред. И.С. Сазонов. – 2013. – N2. – С.130-137.

общий = БД Техника
общий = ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИЙ РАЗРЯД
общий = ТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ
общий = МИКРОКОНТРОЛЛЕРЫ
общий = ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ