Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань) - Материалы II Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности м...
"Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань) - Материалы II Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности м...
Книга
Автор: "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань)
Материалы II Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности м...
Издательство: РРТИ, 1982 г.
ISBN отсутствует
Автор: "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань)
Материалы II Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности м...
Издательство: РРТИ, 1982 г.
ISBN отсутствует
Книга
621.3 П90
"Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань).
Материалы II Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", Рязань, 17-19 июня 1981 г. / "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань); отв. ред. П.Т. Орешкин. – Рязань: РРТИ, 1982. – 159 с.: ил. - В надзаг.: Рязанский радиотехнический институт: 0.65.
621.382.049.77.019.3(063)
общий = МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
621.3 П90
"Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань).
Материалы II Всесоюзного научно-технического семинара "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", Рязань, 17-19 июня 1981 г. / "Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем", всесоюзный научно-технический семинар (2 ; 1981 ; Рязань); отв. ред. П.Т. Орешкин. – Рязань: РРТИ, 1982. – 159 с.: ил. - В надзаг.: Рязанский радиотехнический институт: 0.65.
621.382.049.77.019.3(063)
общий = МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|
ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |