Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Мудрый, А.В. - Кремний-германиевые приборные наноструктуры для применения в оптоэлектронике
Мудрый, А.В. - Кремний-германиевые приборные наноструктуры для применения в оптоэлектронике
Статья
Автор: Мудрый, А.В.
Приборы и методы измерений: Кремний-германиевые приборные наноструктуры для применения в оптоэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Мудрый, А.В.
Приборы и методы измерений: Кремний-германиевые приборные наноструктуры для применения в оптоэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Мудрый, А.В.
Кремний-германиевые приборные наноструктуры для применения в оптоэлектронике / А.В. Мудрый, Ф. Мофиднахаи, А.В. Короткий, А.В. Двуреченский, Ж.В. Смагина, В.А. Володин, П.Л. Новиков // Приборы и методы измерений = Devices and methods of measurements: научно-технический журнал / гл. ред. Федор Алексеевич Романюк; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский национальный технический университет (Минск). – 2012. – N1. – С.44-50. – Режим доступа : http://rep.bntu.by/handle/data/4103.
Исследовано влияние технологических параметров на оптические свойства Si/Ge наноструктур с квантовыми точками Ge
621.315.592
общий = БД Техника
общий = КРЕМНИЙ
общий = ОПТОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ГАММА-СПЕКТРОМЕТРЫ
Мудрый, А.В.
Кремний-германиевые приборные наноструктуры для применения в оптоэлектронике / А.В. Мудрый, Ф. Мофиднахаи, А.В. Короткий, А.В. Двуреченский, Ж.В. Смагина, В.А. Володин, П.Л. Новиков // Приборы и методы измерений = Devices and methods of measurements: научно-технический журнал / гл. ред. Федор Алексеевич Романюк; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь, Белорусский национальный технический университет (Минск). – 2012. – N1. – С.44-50. – Режим доступа : http://rep.bntu.by/handle/data/4103.
Исследовано влияние технологических параметров на оптические свойства Si/Ge наноструктур с квантовыми точками Ge
621.315.592
общий = БД Техника
общий = КРЕМНИЙ
общий = ОПТОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ГАММА-СПЕКТРОМЕТРЫ