Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Жевлакова, Т.А. - Метрологические проблемы изготовления зеркал для проекционной нанолитографии
Жевлакова, Т.А. - Метрологические проблемы изготовления зеркал для проекционной нанолитографии
Статья
Автор: Жевлакова, Т.А.
Оптический журнал: Метрологические проблемы изготовления зеркал для проекционной нанолитографии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Жевлакова, Т.А.
Оптический журнал: Метрологические проблемы изготовления зеркал для проекционной нанолитографии
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Жевлакова, Т.А.
Метрологические проблемы изготовления зеркал для проекционной нанолитографии / Т.А. Жевлакова, С.В. Любарский // Оптический журнал: научно-технический журнал / гл. ред. А.С. Тибилов; учредитель Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики, Оптическое общество им. Д.С. Рождественского. – 2001. – Т.68, N7. – С. 40-48. – Режим доступа : http:Libsrv24.library.bntu.bytextScanZhevlakova_TAdoc1.pdf.
Проведен анализ современных средств контроля рентгеновских зеркал, предназначенных для проекционной нанолитографии. Рассмотрены проблемы измерений оптической формы, шероховатости, рассеяния и отражения в спектральной области 10-14 нм.
общий = МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ОПТИЧЕСКИЕ ДЕТАЛИ
общий = ШЕРОХОВАТОСТЬ ПОВЕРХНОСТИ
Жевлакова, Т.А.
Метрологические проблемы изготовления зеркал для проекционной нанолитографии / Т.А. Жевлакова, С.В. Любарский // Оптический журнал: научно-технический журнал / гл. ред. А.С. Тибилов; учредитель Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики, Оптическое общество им. Д.С. Рождественского. – 2001. – Т.68, N7. – С. 40-48. – Режим доступа : http:Libsrv24.library.bntu.bytextScanZhevlakova_TAdoc1.pdf.
Проведен анализ современных средств контроля рентгеновских зеркал, предназначенных для проекционной нанолитографии. Рассмотрены проблемы измерений оптической формы, шероховатости, рассеяния и отражения в спектральной области 10-14 нм.
общий = МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ОПТИЧЕСКИЕ ДЕТАЛИ
общий = ШЕРОХОВАТОСТЬ ПОВЕРХНОСТИ