Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Saad, A.M. - SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
Saad, A.M. - SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
Статья
Автор: Saad, A.M.
Vacuum: SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Saad, A.M.
Vacuum: SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Saad, A.M.
SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon / A.M. Saad, A.V. Frantskevich, A.K. Fedotov, E.I. Rau, A.V. Mazanik, N.V. Frantskevich, P. Wegierek, P. Zukowski // Vacuum. – 2009. – Vol.83 N1. – P.107-110. - Пер. загл.: [SEM и SIMS изучение захороненного SixNy слоя, образовавшегося в кремнии].
537.533.35
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2009г.
труды сотрудников БНТУ = Научно-исследовательский политехнический институт (НИПИ) : НИЛ оптико-электронного приборостроения
труды сотрудников БНТУ = Факультет информационных технологий и робототехники : кафедра "Техническая физика"
труды сотрудников БНТУ = Физика. Механика. Гидравлика (труды)
общий = ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
общий = ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ
общий = КРЕМНИЙ
общий = ГЕТТЕРИРОВАНИЕ
Saad, A.M.
SEM and SIMS study of the buried SixNy layer formed in silicon / A.M. Saad, A.V. Frantskevich, A.K. Fedotov, E.I. Rau, A.V. Mazanik, N.V. Frantskevich, P. Wegierek, P. Zukowski // Vacuum. – 2009. – Vol.83 N1. – P.107-110. - Пер. загл.: [SEM и SIMS изучение захороненного SixNy слоя, образовавшегося в кремнии].
537.533.35
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2009г.
труды сотрудников БНТУ = Научно-исследовательский политехнический институт (НИПИ) : НИЛ оптико-электронного приборостроения
труды сотрудников БНТУ = Факультет информационных технологий и робототехники : кафедра "Техническая физика"
труды сотрудников БНТУ = Физика. Механика. Гидравлика (труды)
общий = ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
общий = ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ
общий = КРЕМНИЙ
общий = ГЕТТЕРИРОВАНИЕ