Электронный каталог НБ БНТУ

rus

Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога
ФИЛИАЛЫ
КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Белоус, А.И. - Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем

Белоус, А.И. - Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем

Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем

Доступно
1 из 1

Книга
Автор: Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Издательство: Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9

Заказать

На полку

Книга
621.3 Б43

Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А.И. Белоус, А.В. Емельянов, Г.Г. Чигирь. – Минск: Интегралполиграф, 2008. – 207 с.: ил. - ISBN 978-985-684-511-9: 42270.00.

ГРНТИ 47.13.11
ГРНТИ 47.01.81
621.382.049.77-027.3:658.562:005.6

общий = УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = КАЧЕСТВО ПРОДУКЦИИ
общий = КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
общий = КОНТРОЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ

Филиал

Всего

Доступно для брони

Доступно для выдачи

Бронирование

ОХОФ

1

1

1

Заказать