Электронный каталог НБ БНТУ

Периодическое издание

Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника: an international journal & world abstracting service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc.: Pergamon Press. - Научно-технический журнал по микроэлектронике публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике. Статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники. Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем. - ISSN 0026-2714.