Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Печать списка
--> АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Рубрика
- Название:
- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Печать списка
Связанные описания:

Статья
Control of Integrated Circuits Crystals' Surface Microrelief and Defects of Hetero- and Submicros...
Контроль микрорельефа поверхности кристаллов интегральных схем, дефектности гетеро- и субмикроструктур методом атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Control of Integrated Circuits Crystals' Surface Microrelief and Defects of Hetero- and Submicros...
Контроль микрорельефа поверхности кристаллов интегральных схем, дефектности гетеро- и субмикроструктур методом атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lapitskaya, V.A.
Determination of Crack Resistance of the Cover and Slide Glass by Indentation Method with the Vis...
Определение трещиностойкости покровного и предметного стекла методом индентирования с визуализацией методом атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Lapitskaya, V.A.
Determination of Crack Resistance of the Cover and Slide Glass by Indentation Method with the Vis...
Определение трещиностойкости покровного и предметного стекла методом индентирования с визуализацией методом атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lapitskaya, V.A.
Influence of Temperature from 20 to 100 °C on Specific Surface Energy and Fracture Toughness of S...
Влияние температуры от 20 до 100 °С на удельную поверхностную энергию и вязкость разрушения пластин кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Lapitskaya, V.A.
Influence of Temperature from 20 to 100 °C on Specific Surface Energy and Fracture Toughness of S...
Влияние температуры от 20 до 100 °С на удельную поверхностную энергию и вязкость разрушения пластин кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Methods for Accuracy Increasing of Solid Brittle Materials Fracture Toughness Determining
Способы повышения точности определения вязкости разрушения твёрдых хрупких материалов при индентировании
б.г.
ISBN отсутствует
Methods for Accuracy Increasing of Solid Brittle Materials Fracture Toughness Determining
Способы повышения точности определения вязкости разрушения твёрдых хрупких материалов при индентировании
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nanostructured Coatings Based on Langmuir–Blodgett Films of Perfluorodecanoic Acid for Flexible S...
Наноструктурированные покрытия на основе Ленгмюра–Блоджетт плёнок перфтордекановой кислоты для гибких датчиков анализа ионов свинца в воде
б.г.
ISBN отсутствует
Nanostructured Coatings Based on Langmuir–Blodgett Films of Perfluorodecanoic Acid for Flexible S...
Наноструктурированные покрытия на основе Ленгмюра–Блоджетт плёнок перфтордекановой кислоты для гибких датчиков анализа ионов свинца в воде
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nanotests on concrete samples with and without nanotubes
Нанотесты бетонных образцов с нанотрубками и без них
б.г.
ISBN отсутствует
Nanotests on concrete samples with and without nanotubes
Нанотесты бетонных образцов с нанотрубками и без них
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Котенев, В.А.
Атомно-силовая термодилатометрия двухмерных ансамблей наночастиц
б.г.
ISBN отсутствует
Котенев, В.А.
Атомно-силовая термодилатометрия двухмерных ансамблей наночастиц
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Сидорова, С.В.
Исследование формирования островковых наноструктур в вакууме
б.г.
ISBN отсутствует
Сидорова, С.В.
Исследование формирования островковых наноструктур в вакууме
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Щербакова, Елена Николаевна
Комплексные исследования тонкопленочных систем на основе Fe-Si при отжиге в плазме
Complex investigations of thin-film systems based on Fe-Si by plasma annealing
б.г.
ISBN отсутствует
Щербакова, Елена Николаевна
Комплексные исследования тонкопленочных систем на основе Fe-Si при отжиге в плазме
Complex investigations of thin-film systems based on Fe-Si by plasma annealing
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии: X Международная конференция, Минск, 13-16 ноября 2012 г. : сборник докладов
Беларуская навука, 2012 г.
ISBN 978-985-08-1483-8
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии: X Международная конференция, Минск, 13-16 ноября 2012 г. : сборник докладов
Беларуская навука, 2012 г.
ISBN 978-985-08-1483-8