Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
1 из 1
Пилипенко, В.А.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Статья
Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует
Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует
Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Заказать
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
б.г.
ISBN отсутствует
Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Способ формирования геттерирующего скрытого слоя
Method of formation of the gettering latent layer
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Способ формирования геттерирующего скрытого слоя
Method of formation of the gettering latent layer
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Characterisation of tunneling oxidation technological process using scanning probe electrometry technique
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Characterisation of tunneling oxidation technological process using scanning probe electrometry technique
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-п...
Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis – as a Method for Study the Aluminium-Polysilicon Interface after Exposure with Long-Term and Rapid Thermal Annealing
б.г.
ISBN отсутствует
Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-п...
Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis – as a Method for Study the Aluminium-Polysilicon Interface after Exposure with Long-Term and Rapid Thermal Annealing
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует
Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Диагностика методом ЭПР стабильности электрофизических параметров многофункционального диэлектрик...
EPR diagnostics of the stability of electrophysical parameters of a multifunctional dielectric in the Si–SiO2 system during its technological modification
б.г.
ISBN отсутствует
Диагностика методом ЭПР стабильности электрофизических параметров многофункционального диэлектрик...
EPR diagnostics of the stability of electrophysical parameters of a multifunctional dielectric in the Si–SiO2 system during its technological modification
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ковальчук, Н.С.
Влияние импульсной фотонной обработки в среде азота на надёжность подзатворного оксида кремния, п...
Effect of Pulsed Photon Processing in a Nitrogen Ambient on the Reliability of Gate Silicon Oxide Obtained by Pyrogenic Oxidation
б.г.
ISBN отсутствует
Ковальчук, Н.С.
Влияние импульсной фотонной обработки в среде азота на надёжность подзатворного оксида кремния, п...
Effect of Pulsed Photon Processing in a Nitrogen Ambient on the Reliability of Gate Silicon Oxide Obtained by Pyrogenic Oxidation
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Довгаль, М.И.
Влияние быстрой термической обработки на электрофизические свойства слоев силицидов NiPt(V)
Effect of rapid heat treatment on the electrophysical properties of NiPt(V) silicide layers
б.г.
ISBN отсутствует
Довгаль, М.И.
Влияние быстрой термической обработки на электрофизические свойства слоев силицидов NiPt(V)
Effect of rapid heat treatment on the electrophysical properties of NiPt(V) silicide layers
б.г.
ISBN отсутствует