Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Петлицкий, А.Н.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Эволюция спектров теплового сопротивления мощных МОП-транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии ...
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Эволюция спектров теплового сопротивления мощных МОП-транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП-транзисторах из разностных тепловых спектров...
б.г.
ISBN отсутствует
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП-транзисторах из разностных тепловых спектров...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Технологии субмикронных структур микроэлектроники
Беларуская навука, 2018 г.
ISBN 978-985-08-2298-7
ОХОФ, ОНЛ
Технологии субмикронных структур микроэлектроники
Беларуская навука, 2018 г.
ISBN 978-985-08-2298-7
ОХОФ, ОНЛ
Книга (аналит. описание)
Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует
Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
б.г.
ISBN отсутствует
Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Исследования изменений теплового сопротивления мощных МОП транзисторов при термоиспытаниях
Studies of changes in thermal resistance of high-power mosfets during thermal tests
б.г.
ISBN отсутствует
Исследования изменений теплового сопротивления мощных МОП транзисторов при термоиспытаниях
Studies of changes in thermal resistance of high-power mosfets during thermal tests
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Соловьев, Я.А.
Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум: пособие для специальности 1-39 80 03 "Электронные системы и технологии"
БГУИР, 2022 г.
ISBN 9789855436127
ОХОФ
Соловьев, Я.А.
Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум: пособие для специальности 1-39 80 03 "Электронные системы и технологии"
БГУИР, 2022 г.
ISBN 9789855436127
ОХОФ
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Characterisation of tunneling oxidation technological process using scanning probe electrometry technique
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Characterisation of tunneling oxidation technological process using scanning probe electrometry technique
б.г.
ISBN отсутствует