Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
ГРНТИ 29.19.04
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Точицкий, Т.А.
Двойникование в наноструктурных пленках и нанопроволоках
Издательский центр БГУ, 2009 г.
ISBN 978-985-476-698-0
ОХОФ, ОНЛ
Точицкий, Т.А.
Двойникование в наноструктурных пленках и нанопроволоках
Издательский центр БГУ, 2009 г.
ISBN 978-985-476-698-0
ОХОФ, ОНЛ
Заказать 
На полку 
Электронный ресурс
Использование рентгенографического метода для определения микронапряжений и областей когерентного...: методические указания к лабораторной работе по физике для студентов инженерно-технических
БНТУ, 2018 г.
ISBN отсутствует
Зал ЭР
Использование рентгенографического метода для определения микронапряжений и областей когерентного...: методические указания к лабораторной работе по физике для студентов инженерно-технических
БНТУ, 2018 г.
ISBN отсутствует
Зал ЭР
Книга
Гапоненко, Н.В.
Пленки, сформированные золь-гель методом на полупроводниках и в мезопористых матрицах
Беларуская навука, 2003 г.
ISBN 985-08-0368-1
ОХОФ, ОНЛ
Гапоненко, Н.В.
Пленки, сформированные золь-гель методом на полупроводниках и в мезопористых матрицах
Беларуская навука, 2003 г.
ISBN 985-08-0368-1
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Лебедев, М.П.
Пористость деталей, полученных технологиями порошковой металлургии: учебно-методическое пособие
Академия, 2011 г.
ISBN 978-5-87444-382-5
ОХОФ, ОНЛ
Лебедев, М.П.
Пористость деталей, полученных технологиями порошковой металлургии: учебно-методическое пособие
Академия, 2011 г.
ISBN 978-5-87444-382-5
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-25-9
ОХОФ
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-25-9
ОХОФ