Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382:620.22(063)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks: nano-electronic semiconductor devices, [proceedings of the NATO advanced research workshop on defects in advanced high-k dielectric nano-electronic
ISBN 9781402043666
ЧЗ ЗИ
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks: nano-electronic semiconductor devices, [proceedings of the NATO advanced research workshop on defects in advanced high-k dielectric nano-electronic
Серия: NATO science series
Springer, 2005 г.ISBN 9781402043666
ЧЗ ЗИ
Заказать 
На полку