Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382.049.77-747(048.8)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Глудкин, О.П.
Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием кли...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1977 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Глудкин, О.П.
Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием кли...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1977 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Книга
Глудкин, О.П.
Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1977 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Глудкин, О.П.
Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1977 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ