Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382.049.77.002:658.562
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Данилин, Н.С.
Диагностика и контроль качества изделий цифровой микроэлектроники
Издательство стандартов, 1991 г.
ISBN 5-7050-0089-8
ОХОФ, ОНЛ
Данилин, Н.С.
Диагностика и контроль качества изделий цифровой микроэлектроники
Издательство стандартов, 1991 г.
ISBN 5-7050-0089-8
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Колешко, Владимир Михайлович
Контроль в технологии микроэлектроники
Наука и техника, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ
Колешко, Владимир Михайлович
Контроль в технологии микроэлектроники
Наука и техника, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности: сборник научных трудов
МИЭТ, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности: сборник научных трудов
МИЭТ, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Книга
Анализ брака и отказов интегральных схем: (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1958-1978 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Анализ брака и отказов интегральных схем: (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1958-1978 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Книга
Богатырев, А.Е.
Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей: (по данным отечественной и зарубежной печати 1972-79 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Богатырев, А.Е.
Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей: (по данным отечественной и зарубежной печати 1972-79 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ