Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> Приборостроительный факультет
----> кафедра "Лазерная техника и технология"
Печать списка
--> Приборостроительный факультет
----> кафедра "Лазерная техника и технология"
Рубрика
- Название:
- кафедра "Лазерная техника и технология"
Печать списка
Связанные описания:

Статья
Кристалл Er3 ,Yb3 :YGdSiO5 для лазеров спектрального диапазона 1,5–1,6 мкм
Er3+,Yb3+:YGdSiO5 Crystal as Gain Media for Lasers Emitting in the Spectral Range of 1.5–1.6 μm
б.г.
ISBN отсутствует
Кристалл Er3 ,Yb3 :YGdSiO5 для лазеров спектрального диапазона 1,5–1,6 мкм
Er3+,Yb3+:YGdSiO5 Crystal as Gain Media for Lasers Emitting in the Spectral Range of 1.5–1.6 μm
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Кисель, Виктор Эдвардович
Кристаллы Yb:KY(WO4)2 с высоким содержанием ионов иттербия: рост и спектрально-кинетические свойства
Heavily-doped Yb:KY(WO4)2 crystals: growth and spectral-luminescent properties
б.г.
ISBN отсутствует
Кисель, Виктор Эдвардович
Кристаллы Yb:KY(WO4)2 с высоким содержанием ионов иттербия: рост и спектрально-кинетические свойства
Heavily-doped Yb:KY(WO4)2 crystals: growth and spectral-luminescent properties
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Дернович, Ольга Петровна
Лазеры на кристаллах Tm:Klu(WO4)2 и Tm:KY(WO4)2 в микрочип-конфигурации для дистанционного зондир...
Continuous-wave microchip laser generation of Tm:Klu(WO4)2 and Tm:KY(WO4)2 crystals
б.г.
ISBN отсутствует
Дернович, Ольга Петровна
Лазеры на кристаллах Tm:Klu(WO4)2 и Tm:KY(WO4)2 в микрочип-конфигурации для дистанционного зондир...
Continuous-wave microchip laser generation of Tm:Klu(WO4)2 and Tm:KY(WO4)2 crystals
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ивашко, А.М.
Масштабирование выходной мощности непрерывного Yb:YAG микрочип-лазера для измерительных систем
Power Scaling in Continuous-Wave Yb:YAG Microchip Laser for Measuring Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Ивашко, А.М.
Масштабирование выходной мощности непрерывного Yb:YAG микрочип-лазера для измерительных систем
Power Scaling in Continuous-Wave Yb:YAG Microchip Laser for Measuring Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Козерук, Альбин Степанович
Математическое моделирование процесса формообразования плоского инструмента для обработки коничес...
Mathematical modeling of the process of formation of a flat tool for processing conical surfaces
б.г.
ISBN отсутствует
Козерук, Альбин Степанович
Математическое моделирование процесса формообразования плоского инструмента для обработки коничес...
Mathematical modeling of the process of formation of a flat tool for processing conical surfaces
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Математическое моделирование рабочей зоны технологического оборудования для двусторонней обработк...
Mathematical Modeling of Operational Zone for Technological Equipment Used for Double-Sided Processing of Lenses
б.г.
ISBN отсутствует
Математическое моделирование рабочей зоны технологического оборудования для двусторонней обработк...
Mathematical Modeling of Operational Zone for Technological Equipment Used for Double-Sided Processing of Lenses
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Математическое моделирование технологического оборудования для обработки оптических деталей
Mathematical Simulation of Technological Equipment for Processing of Optical Parts
б.г.
ISBN отсутствует
Математическое моделирование технологического оборудования для обработки оптических деталей
Mathematical Simulation of Technological Equipment for Processing of Optical Parts
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Артюхина, Нина Константиновна
Математическое моделирование Фурье-видеоспектрометра
б.г.
ISBN отсутствует
Артюхина, Нина Константиновна
Математическое моделирование Фурье-видеоспектрометра
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Кожевников, Д.А.
Метод геометрической калибровки оптико-электронных систем на основе электронного тест-объекта
The method of geometric calibration of optoelectroniс systems based on electronic test object
б.г.
ISBN отсутствует
Кожевников, Д.А.
Метод геометрической калибровки оптико-электронных систем на основе электронного тест-объекта
The method of geometric calibration of optoelectroniс systems based on electronic test object
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ивашко, А.М.
Метод определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов
Method for determination of focal plane location of focusing components
б.г.
ISBN отсутствует
Ивашко, А.М.
Метод определения положения фокальной плоскости фокусирующих компонентов
Method for determination of focal plane location of focusing components
б.г.
ISBN отсутствует