Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> Приборостроительный факультет
----> кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
Печать списка
--> Приборостроительный факультет
----> кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
Рубрика
- Название:
- кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
Печать списка
Связанные описания:

Книга (аналит. описание)
Морозов, Д.А.
Методика исследования деформации полимеров
б.г.
ISBN отсутствует
Морозов, Д.А.
Методика исследования деформации полимеров
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Антошин, Александр Анатольевич
Методика исследования динамики параметров задымлённой среды при переходе пиролиза в пламенное гор...
Technique for Studying of the Dynamics of Changes of a Smoky Environment Parameters during the Transition of Pyrolysis to Flame Combustion
б.г.
ISBN отсутствует
Антошин, Александр Анатольевич
Методика исследования динамики параметров задымлённой среды при переходе пиролиза в пламенное гор...
Technique for Studying of the Dynamics of Changes of a Smoky Environment Parameters during the Transition of Pyrolysis to Flame Combustion
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Антошин, Александр Анатольевич
Методика исследования пространственного распределения параметров среды и продуктов горения в жило...
Experimental Test Procedure of the Spatial Distribution of Environmental Parameters and Products of Combustion in a Residential Area and Adjacent Spaces
б.г.
ISBN отсутствует
Антошин, Александр Анатольевич
Методика исследования пространственного распределения параметров среды и продуктов горения в жило...
Experimental Test Procedure of the Spatial Distribution of Environmental Parameters and Products of Combustion in a Residential Area and Adjacent Spaces
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Ардашев, Д.С.
Методика исследования фотоэлектрических процессов на поверхности диэлектриков
Technique for studying photoelectric processes on the dielectric surfaces
б.г.
ISBN отсутствует
Ардашев, Д.С.
Методика исследования фотоэлектрических процессов на поверхности диэлектриков
Technique for studying photoelectric processes on the dielectric surfaces
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Исаев, Александр Витальевич
Методика получения стабильных контрольно-диагностических сигналов
Increasing the accuracy of measuring time parameters with instability of the parameters of pulse signals
б.г.
ISBN отсутствует
Исаев, Александр Витальевич
Методика получения стабильных контрольно-диагностических сигналов
Increasing the accuracy of measuring time parameters with instability of the parameters of pulse signals
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Мисюкевич, Николай Стефанович
Методика экспериментального определения температурно-временных характеристик кабельных изделий
Method of experimental determination of temperature-time characteristics of cable products
б.г.
ISBN отсутствует
Мисюкевич, Николай Стефанович
Методика экспериментального определения температурно-временных характеристик кабельных изделий
Method of experimental determination of temperature-time characteristics of cable products
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Методология и средства измерений параметров объектов с неопределенными состояниями: монография
БНТУ, 2010 г.
ISBN 978-985-525-307-6
Методология и средства измерений параметров объектов с неопределенными состояниями: монография
БНТУ, 2010 г.
ISBN 978-985-525-307-6
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Методы автоматического определения и стабилизации величины зазора зонд-образец в измерительной си...
Methods of automatic definition and stabilization of probe-to-sample gap in a Kelvin probe measurement system
б.г.
ISBN отсутствует
Тявловский, Андрей Константинович
Методы автоматического определения и стабилизации величины зазора зонд-образец в измерительной си...
Methods of automatic definition and stabilization of probe-to-sample gap in a Kelvin probe measurement system
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
Methods of device layers mapping for semiconductor wafers
б.г.
ISBN отсутствует
Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
Methods of device layers mapping for semiconductor wafers
б.г.
ISBN отсутствует