| Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения | Количество обучающихся, изучающих дисциплину | | Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами |
| Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) | Количество экз./чел. |
|
| Надежность и испытание микро- и наносистем | --- |
| 1. Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование : [учебное пособие для вузов по специальностям "Конструирование и производство радиоаппаратуры", "Конструирование и производство электронно-вычислительной аппаратуры"] / О.П. Глудкин. — Москва : Радио и связь, 1987. — 271 с. : ил. — Авт. указаны на обор. тит. л. : 0.95. | 1.00 |
| 2. Глудкин, О.П. Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС : [учебник для вузов по специальности "Конструирование и технология РЭС", "Конструирование и технология ЭВС"] / О.П. Глудкин. — Москва : Высшая школа, 1991. — 336 с. : ил. — ISBN 5-06-001891-1 : 0.95. | 1.00 |
| 3. Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. | 1.00 |
|