Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Надежность и испытание микро- и наносистем
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Надежность и испытание микро- и наносистем | Микро- и нанотехника | Компонент учреждения высшего образования : Модуль "Методы контроля и надежность микро- и наносистем" | 0 | 0 | 4 | 7 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование : [учебное пособие для вузов по специальностям "Конструирование и производство радиоаппаратуры", "Конструирование и производство электронно-вычислительной аппаратуры"] / О.П. Глудкин. — Москва : Радио и связь, 1987. — 271 с. : ил. — Авт. указаны на обор. тит. л. : 0.95. | 1987 | 2 | 1 | 0 | --- | 0 | 0 | 1.00 | 1.00 | |||
| 2 | Глудкин, О.П. Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС : [учебник для вузов по специальности "Конструирование и технология РЭС", "Конструирование и технология ЭВС"] / О.П. Глудкин. — Москва : Высшая школа, 1991. — 336 с. : ил. — ISBN 5-06-001891-1 : 0.95. | 1991 | 6 | 2 | 0 | --- | 0 | 0 | 1.00 | 1.00 | |||
| 3 | Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. | 1988 | 8 | 2 | 0 | --- | 1 | 1 | 1.00 | 1.00 | |||
| Итого по дисциплине : Надежность и испытание микро- и наносистем | 16 | --- | --- | --- | |||||||||