| Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения | Количество обучающихся, изучающих дисциплину | | Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами |
| Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) | Количество экз./чел. |
|
| Контроль параметров материалов и компонентов электронной техники | --- |
| 1. Кучис, Е.В. Гальваномагнитные эффекты и методы их исследования / Е.В. Кучис. — Москва : Радио и связь, 1990. — 264 с. : ил. — ISBN 5-256-00734-3 : 3.30. | 1.00 |
| 2. Батавин, В.В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В.В. Батавин. — Москва : Радио и связь, 1985. — 264 с. : ил. — (Измерения в электронике) : 1.10. | 1.00 |
| 3. Рембеза, С.И. Методы измерения основных параметров полупроводников : [учебное пособие для вузов по специальности "Физика и технология материалов и компонентов электронной техники"] / С.И. Рембеза. — Воронеж : Издательство Воронежского университета, 1989. — 222 с. : ил. — (Микроэлектроника) . — ISBN 5-7455-0132-4 : 0.40. | 1.00 |
| 4. Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. | 1.00 |
| 5. Ланин, В.Л. Технология производства электронных средств : учебное пособие для студентов учреждений высшего образования по специальности "Проектирование и производство программно-управляемых электронных средств" / В. Л. Ланин, А. А. Хмыль. — Минск : Вышэйшая школа, 2019. — 455 с. : ил., табл., схемы, граф. — ISBN 9789850631671 : 76.70. | 1.00 |
|