Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Контроль параметров материалов и компонентов электронной техники
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Контроль параметров материалов и компонентов электронной техники | Микро- и нанотехника | Государственный компонент : Модуль "Твердотельная электроника" | 0 | 1 | 3 | 6 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Кучис, Е.В. Гальваномагнитные эффекты и методы их исследования / Е.В. Кучис. — Москва : Радио и связь, 1990. — 264 с. : ил. — ISBN 5-256-00734-3 : 3.30. | 1990 | 1 | 0 | 0 | --- | 1 | 1 | 1.00 | 1.00 | |||
| 2 | Батавин, В.В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В.В. Батавин. — Москва : Радио и связь, 1985. — 264 с. : ил. — (Измерения в электронике) : 1.10. | 1985 | 6 | 0 | 0 | --- | 1 | 1 | 1.00 | 1.00 | |||
| 3 | Рембеза, С.И. Методы измерения основных параметров полупроводников : [учебное пособие для вузов по специальности "Физика и технология материалов и компонентов электронной техники"] / С.И. Рембеза. — Воронеж : Издательство Воронежского университета, 1989. — 222 с. : ил. — (Микроэлектроника) . — ISBN 5-7455-0132-4 : 0.40. | 1989 | 1 | 0 | 0 | --- | 1 | 1 | 1.00 | 1.00 | |||
| 4 | Чернышев, А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем / А.А. Чернышев. — Москва : Радио и связь, 1988. — 255 с. : ил., табл. — ISBN 5-256-00042-X : 1.20. | 1988 | 8 | 2 | 0 | --- | 1 | 1 | 1.00 | 1.00 | |||
| 5 | Ланин, В.Л. Технология производства электронных средств : учебное пособие для студентов учреждений высшего образования по специальности "Проектирование и производство программно-управляемых электронных средств" / В. Л. Ланин, А. А. Хмыль. — Минск : Вышэйшая школа, 2019. — 455 с. : ил., табл., схемы, граф. — ISBN 9789850631671 : 76.70. | Республика Беларусь | 2019 | 4 | 2 | 0 | --- | 2 | 1 | 1.00 | 1.00 | ||
| Итого по дисциплине : Контроль параметров материалов и компонентов электронной техники | 20 | --- | 1.00 | 1.00 | |||||||||