Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> Приборостроительный факультет
----> кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
Печать списка
--> Приборостроительный факультет
----> кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
Рубрика
- Название:
- кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
Печать списка
Связанные описания:
Книга
Ширин, И.Я.
Схемотехника аналоговых и цифровых устройств: учебное пособие [для вузов]
БНТУ, 2005 г.
ISBN 985-479-156-4
Ширин, И.Я.
Схемотехника аналоговых и цифровых устройств: учебное пособие [для вузов]
БНТУ, 2005 г.
ISBN 985-479-156-4
Заказать 
На полку 
Книга (аналит. описание)
Ризноокая, Наталия Николаевна
Трение качения на стали с акриловым покрытием
Rolling friction on acrylic coated steel
б.г.
ISBN отсутствует
Ризноокая, Наталия Николаевна
Трение качения на стали с акриловым покрытием
Rolling friction on acrylic coated steel
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Исаев, Александр Витальевич
Увеличения точности измерения временных параметров при нестабильности параметров импульсных сигналов
Increasing the accuracy of measuring time parameters with instability of the parameters of pulse signals
б.г.
ISBN отсутствует
Исаев, Александр Витальевич
Увеличения точности измерения временных параметров при нестабильности параметров импульсных сигналов
Increasing the accuracy of measuring time parameters with instability of the parameters of pulse signals
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ударное уширение линий перехода 1000—0001 молекул СО2 молекулами O2 и N2 в диапазоне температур 3...
Collisional broadening of CO2 1000-0001 transition lines by O2 and N2 in the 300-700 K temperature range
б.г.
ISBN отсутствует
Ударное уширение линий перехода 1000—0001 молекул СО2 молекулами O2 и N2 в диапазоне температур 3...
Collisional broadening of CO2 1000-0001 transition lines by O2 and N2 in the 300-700 K temperature range
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Универсальный цифровой зондовый электрометр для контроля полупроводниковых пластин
Universal Digital Probe Electrometer for Testing Semiconductor Wafers
б.г.
ISBN отсутствует
Универсальный цифровой зондовый электрометр для контроля полупроводниковых пластин
Universal Digital Probe Electrometer for Testing Semiconductor Wafers
б.г.
ISBN отсутствует