Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Lapitskaya, V.A.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Methods for Accuracy Increasing of Solid Brittle Materials Fracture Toughness Determining
Статья

Methods for Accuracy Increasing of Solid Brittle Materials Fracture Toughness Determining
Способы повышения точности определения вязкости разрушения твёрдых хрупких материалов при индентировании
б.г.
ISBN отсутствует
1
2
3
4
5

полный текст


На полку На полку

Influence of Temperature from 20 to 100 °C on Specific Surface Energy and Fracture Toughness of S...
Статья
Lapitskaya, V.A.
Influence of Temperature from 20 to 100 °C on Specific Surface Energy and Fracture Toughness of S...
Влияние температуры от 20 до 100 °С на удельную поверхностную энергию и вязкость разрушения пластин кремния
б.г.
ISBN отсутствует
1
2
3
4
5

полный текст


На полку На полку

Determination of Crack Resistance of the Cover and Slide Glass by Indentation Method with the Vis...
Статья
Lapitskaya, V.A.
Determination of Crack Resistance of the Cover and Slide Glass by Indentation Method with the Vis...
Определение трещиностойкости покровного и предметного стекла методом индентирования с визуализацией методом атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
1
2
3
4
5

полный текст


На полку На полку

Control of Integrated Circuits Crystals' Surface Microrelief and Defects of Hetero- and Submicros...
Статья

Control of Integrated Circuits Crystals' Surface Microrelief and Defects of Hetero- and Submicros...
Контроль микрорельефа поверхности кристаллов интегральных схем, дефектности гетеро- и субмикроструктур методом атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
1
2
3
4
5

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121