Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Бринкевич, Д.И.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Аппаратное обеспечение контроля долгоживущих β-излучающих радионуклидов, образующихся при произво...
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Аппаратное обеспечение контроля долгоживущих β-излучающих радионуклидов, образующихся при произво...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Влияние вида основной легирующей примеси в кремнии на эффективность диффузии иттербия
б.г.
ISBN отсутствует
Влияние вида основной легирующей примеси в кремнии на эффективность диффузии иттербия
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Индентирование облученных электронами пленок позитивных новолачных фоторезистов на кремнии
Indentation of electron irradiated positive novolac photoresists films on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Индентирование облученных электронами пленок позитивных новолачных фоторезистов на кремнии
Indentation of electron irradiated positive novolac photoresists films on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Черный, Владимир Владимирович
Исследование прочностных свойств пленок фоторезиста на кремнии методом склерометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Черный, Владимир Владимирович
Исследование прочностных свойств пленок фоторезиста на кремнии методом склерометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Модификация поверхности пленок полиэтилентерефталата при имплантации высокоэнергетичными ионами и...
б.г.
ISBN отсутствует
Модификация поверхности пленок полиэтилентерефталата при имплантации высокоэнергетичными ионами и...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Облученные гамма-квантами пленки позитивного резиста ФП9120 на пластинах монокристаллического кре...
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Облученные гамма-квантами пленки позитивного резиста ФП9120 на пластинах монокристаллического кре...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Одновременное измерение γ- и β-излучающих радионуклидов, образующихся в процессе производства рад...
Simultaneous measurement of γ- and β-emitting radionuclides formed during the production of radiopharmaceuticals
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Одновременное измерение γ- и β-излучающих радионуклидов, образующихся в процессе производства рад...
Simultaneous measurement of γ- and β-emitting radionuclides formed during the production of radiopharmaceuticals
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Особенности имплантации ионов Р , В И Sb в пленки позитивного фоторезиста ФП9120 на кремнии
Features of implantation of Р+, В+ AND Sb+ ions into films of FP9120 positive photoresist on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Особенности имплантации ионов Р , В И Sb в пленки позитивного фоторезиста ФП9120 на кремнии
Features of implantation of Р+, В+ AND Sb+ ions into films of FP9120 positive photoresist on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Бринкевич, Д.И.
Подавление полевого разогрева электронов в окислах на основе Si:Ge
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Подавление полевого разогрева электронов в окислах на основе Si:Ge
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Черный, Владимир Владимирович
Прочностные свойства и морфология поверхности структур фоторезист ФП9120-кремний
б.г.
ISBN отсутствует
Черный, Владимир Владимирович
Прочностные свойства и морфология поверхности структур фоторезист ФП9120-кремний
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Радионуклиды в сменных деталях коммерческих циклотронов
Radionuclides in replacement parts of commercial cyclotrons
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Радионуклиды в сменных деталях коммерческих циклотронов
Radionuclides in replacement parts of commercial cyclotrons
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Бринкевич, Д.И.
Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Measurement of microhardness of photoresist films on silicon by the scratching method
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Measurement of microhardness of photoresist films on silicon by the scratching method
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Трансформация спектров отражения пленок фоторезиста на кремнии при y-облучении и ионной имплантации
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Трансформация спектров отражения пленок фоторезиста на кремнии при y-облучении и ионной имплантации
б.г.
ISBN отсутствует